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池田屋 熱賣！ ADCMT/愛德萬 模塊化靜電計/高阻計系統 4000
池田屋 熱賣！ ADCMT/愛德萬 模塊化靜電計/高阻計系統 4000
能夠在 2U 半尺寸機箱中容納雙槽單元
的主機。
可插入模塊數量：2
接口：USB / GPIB / LAN / RS232
處理程序接口：4 個通道
數字輸入/輸出：8 位
4000 型微電流/超高電阻表模塊
電流測量范圍：10 fA 至 3.2 mA
高速積分電流測量，最大速度為 1.5 毫秒。
電壓產生：
±200 V (40051/40052)
、+300 V、-100 V (40053/40054)
、+2000 V、-200 V (40057)
接觸式檢測：0–100 pF/0.1 pF 分辨率
處理程序接口：INDEX、EOM、HI、GO、LO、NC
紅外測溫儀可與“4000"主機配合安裝，該主機采用緊湊型外殼，可容納兩個插槽，可使用單通道紅外測溫儀單元“40051/40053/40057"和雙通道紅外測溫儀單元“40052/40054"。因此，單個單元可配置1至4個通道。
近年來，縮短產品制造與檢測之間的周期時間已成為零部件市場生產線的關鍵所在。因此，生產線測量儀器需要不斷針對各公司的生產線進行功能優化，例如更快的測量速度、多通道測量能力和節省空間的設計。
這款紅外測溫儀采用模塊化設計，可以滿足客戶的這些需求。
4000 型雙槽模塊化儀器是一款 2U 半尺寸主機，可容納兩個 0.7U 半尺寸模塊。
它配備 USB/GPIB/LAN/RS232 接口，可連接個人電腦和可編程控制器，用于構建電子元器件開發與評估系統以及生產線檢測系統。
四通道處理器接口支持與自動化設備進行時序控制，并可根據模塊的測量/判斷結果進行器件選擇。
在檢測線上，該系統易于安裝和維護，包括通過前面板 USB 接口進行模塊更換和運行驗證，且系統已集成到機架中。
此外，配備 5V/200mA 電源的 8 位數字 I/O 可實現簡單的繼電器控制和任意信號生成。
40051/40052/40053/40054/40057 型紅外測溫儀模塊專為 4000 系列雙槽模塊化儀器設計。
其中，40051/40053/40057 型為單通道紅外測溫儀，40052/40054 型為雙通道紅外測溫儀。它們均為積分型電流表，非常適合測量電容器等大容量樣品的電流。
電流測量范圍為 10 fA 至 3.2 mA。 40051/40052 型號內置 ±200 V/3.2 mA 直流電壓發生器，40053/40054 型號內置 +300 V、-100 V/3.2 mA 直流電壓發生器，40057 型號內置 +2000 V/0.8 mA、±200 V/3.2 mA 直流電壓發生器。因此，可測量312 Ω 至 3 × 101?
Ω 的電阻。 為確定接觸狀態（測量高阻樣品時可能出現問題），該型號配備了使用電容 (C) 測量的接觸檢查功能 (C.CHK)。
此外，4000 型號的后部連接器直接輸出用于生產線自動化設備控制的處理器接口信號。
4 0051（電壓生成范圍：1 mV 至 ±200 V）
40053 （電壓生成范圍： 1 mV 至+300 V / -100 V）
40052（電壓生成范圍：1 mV 至 ±200 V）
40054（電壓生成范圍： 1 mV 至+300 V / -100 V）
40057（電壓生成范圍：±200 V，+50 V 至 +2000 V）測量時間和測量持續時間
本文檔展示了使用兩臺 4000+40052 型 4 通道 APD ROSA 進行 I-V 特性測量的示例。40052 型器件
允許使用單根 TRIAX 輸入電纜進行 VSIM 測量，只需使用“HIG1"命令將其輸出端連接到 GND 即可。40052 型器件的電壓生成電路采用與我們的 SMU 相同的方法，通過其高速響應恒流限流器消除了過沖，從而能夠在不增加器件負荷的情況下進行測量。在 0 V 至 200 V 的電壓范圍內，
通過將電流限制在 100 μA ，
可以測量 10 fA 至 100 μA 的暗電流特性。
電壓生成：0 至 ±200 V（最小分辨率 1 mV）
電流測量：0 至 ±3.2 mA（最小分辨率 10 fA）
限流器：10 μA 至 3.2 mA
此圖顯示了使用掃描儀3100、低電流卡31001J和高壓卡31001G測量多個 DUT（40051/40053/40057）時的連接方式。將 40051/40053/40057 的 LO 端子連接到31001J的 LO 端子。這樣可以確保未被測量通道的 DUT 始終保持充電狀態。
31001G在 VS 和 DUT 之間集成了一個 10kΩ 的電阻，通過將 DUT 連接到 R 端子來實現，這樣可以降低噪聲，并在 DUT 短路時防止過電流。最大電壓為 1000V。
此外，多重關閉模式允許您從系統中移除有故障的被測設備并繼續測試。
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